X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。
由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。
X射线探测需要厚膜的原因主要是为了保护探测器不受外界环境的影响,同时提高探测器的稳定性和可靠性。首先,厚膜可以有效地隔绝外界环境对探测器的污染和破坏,从而延长探测器的使用寿命。其次,厚膜还可以提高探测器的稳定性,因为厚膜可以有效地吸收和散射来自外界的干扰信号,从而减少探测器输出的噪声和误差。最后,厚膜可以提高探测器的可靠性,因为厚膜可以有效地保护探测器不受外界环境的影响,从而减少探测器出现故障的概率。总之,使用厚膜可以有效地提高X射线探测器的性能和可靠性,从而为工业、医疗等领域提供更准确、可靠的检测结果。