光切显微镜测量rz值的范围一般在100纳米至200微米之间。

具体来说，这种测量方法的精度和范围取决于多种因素，包括显微镜的放大倍数、物镜的数值孔径、样品的特性以及测量条件等。为了获得更准确的结果，通常需要对样品进行适当的制备和选择适合的对比剂。在实际应用中，光切显微镜常用于测量表面粗糙度、颗粒大小、薄膜厚度等微观特征，也可用于观察和分析材料表面的形貌和结构。