需要使用测试仪器。

以下是一些常用的方法：

1. 使用万用表测试双向可控硅的导通情况。将万用表的正极接入双向可控硅的G端，负极接入A端，此时应该无导通；将正极接入A端，负极接入K端，此时也应该无导通。如果有导通，则可能是双向可控硅损坏。

2. 使用数字万用表测试双向可控硅的电压和电流特性。将数字万用表的正极接入双向可控硅的A端，负极接入K端，逐渐增加电压，记录下电流和电压的变化情况。如果电流和电压没有正常变化，则可能是双向可控硅损坏。

3. 使用示波器测试双向可控硅的开关特性。将示波器的正极接入双向可控硅的G端，负极接入A端，同时接入一个电阻，然后给G端施加一个正脉冲，观察示波器上的波形。如果波形不正常，则可能是双向可控硅损坏。

4. 使用特殊的双向可控硅测试仪测试双向可控硅的正反向触发特性、电流特性等。这种测试仪器可以更加准确地检测双向可控硅的好坏。